半导体器件,这些引脚分别标记为集电极(C)、基极(B)和发射极(E)。现在,我将展示如何使用
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图A)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图B)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图C)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图D)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图E)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图F)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图G)下几秒钟。
将测试引线连接到晶体管的引脚上。保持测试引线连接在这种方式(图H)下几秒钟。
如果按下按钮连接到电源端,晶体管将打开,LED将亮起。如果按下按钮连接到地端,晶体管将关闭,LED将熄灭。如果它正常工作,晶体管是正常的。如果不工作,晶体管是坏的。
如果按下按钮连接到电源端,晶体管将关闭,LED将熄灭。如果按下按钮连接到地端,晶体管将打开,LED将亮起。如果它正常工作,晶体管是正常的。如果不工作,晶体管是坏的。
是一种三极管,是现代电子技术中不可或缺的电子元件。它由三个半导体区域——两个P型半导体夹着一个N型半导体构成,这种特殊的结构赋予了
电路中,上级电路的输入共同作用加在两个基极之间?假设是高电平,为什么上面
多发射极分别接到比较器的输出端,集电极共用一路上拉电阻连接至电源,如果多路比较器有一路导通,则该多发射极
手册 /
手册 /
两种方案,但是不知道这两种方案哪一种更好或者更合理,而且没有头绪,大佬可否指点,感谢。 其实想的不仅是
,例如锗和硅。它介于真正的导体(例如铜)和绝缘体(类似于塑料包裹的粗糙电线)之间。
哪一个更好? /
?又是怎么和PLC接线 /
的结构特点和伏安特性 /
是由三个不同掺杂的半导体材料制成的电子元件,它是一种L6562ADTR双极
,是电子学中最常用的元件之一。它的名称来源于其内部的三个掺杂区域,分别是N型区、P型区和N型区。其中,P型区称为基区,N型区称为发射区和
Nexperia(安世)发布高性能碳化硅MOSFET,满足工业应用增长需求
【紫光同创盘古PGX-Nano教程】——(盘古PGX-Nano开发板/PG2L50H_MBG324第七章)序列检测器实验例程
bytes at port 输出的值一直为0,串口助手可以读取数据,求问可能是什么问题?
紫光同创PGL22G开发板盘古22K开发板,国产FPGA开发板,接口丰富,高性价比
嵌入式学习-飞凌嵌入式ElfBoard ELF 1板卡-在VSCode中进行Linux内核源码的管理
Copyright © 2012-2024 龙八娱乐官网公司 版权所有